收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 35002-2018 微波电路 频率源测试方法
Microwave circuits—Measuring methods for frequency source
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
电子学（31）
集成电路、微电子学（31.200）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
微电路（L55/59）
混合集成电路（L58）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 17865-1999
焦深与最佳聚焦的测量规范
-
GB/T 35010.6-2018
半导体芯片产品 第6部分：热仿真要求
-
GB/T 17940-2000
半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
-
GB/T 28275-2012
硅基MEMS制造技术 氢氧化钾腐蚀工艺规范
-
GB/T 34893-2017
微机电系统（MEMS）技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法
-
GB/T 26111-2010
微机电系统（MEMS）技术 术语
-
SJ/T 10741-2000
半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
-
GB/T 28274-2012
硅基MEMS制造技术 版图设计基本规则
-
GB/T 3430-1989
半导体集成电路型号命名方法
-
GB/T 36479-2018
集成电路 焊柱阵列试验方法
-
GB/T 32815-2016
硅基MEMS制造技术 体硅压阻加工工艺规范
-
GB/T 16525-1996
塑料有引线片式载体封装引线框架规范
-
GB/T 28277-2012
硅基MEMS制造技术 微键合区剪切和拉压强度检测方法
-
GB/T 17571-1998
碱性二次电池和电池组 扣式密封镉镍可充整体电池组
-
GB/T 6648-1986
半导体集成电路静态读/ 写存储器空白详细规范(可供认证用)
-
SJ/Z 11360-2006
集成电路IP核信号完整性规范
-
SJ 524381/2-2002
混合集成电路 JPA2748型脉宽调制大功率放大器详细规范
-
GB/T 17864-1999
关键尺寸(CD)计量方法
-
GB/T 35007-2018
半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
-
GB/T 16464-1996
半导体器件 集成电路 第1部分:总则
打开设置，点击
执行注册
