收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 35001-2018 微波电路 噪声源测试方法
Microwave circuits—Measuring methoels for noise source
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
集成电路、微电子学(31.200)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
微电路(L55/59)
混合集成电路(L58)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 13062-2018
半导体器件 集成电路 第21-1部分:膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)
-
GB/T 35010.1-2018
半导体芯片产品 第1部分:采购和使用要求
-
GB/T 6800-1986
半导体集成音响电路音频功率放大器测试方法的基本原理
-
GB/T 35010.2-2018
半导体芯片产品 第2部分:数据交换格式
-
GB/T 35006-2018
半导体集成电路 电平转换器测试方法
-
GB/T 26113-2010e
微机电系统(MEMS)技术微几何量评定总则
-
GB/T 33922-2017
MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法
-
T/CIE 068-2020
工业级高可靠集成电路评价 第2部分:DC/DC变换器
-
GB/T 6812-1986
半导体集成非线性电路系列和品种 模拟乘-除法器的品种
-
GB/T 9423-1988
半导体集成TTL电路系列和品种 54/74 ALS 系列的品种
-
GB/T 12750-2006
半导体器件 集成电路 第11部分:半导体集成电路分规范(不包括混合电路)
-
GB/T 36474-2018
半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法
-
GB 11498-1989
膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)(可供认证用)
-
SJ 50597/60-2004
半导体集成电路 JW117/JW150/JW138型三端可调正输出电压调整器详细规范
-
SJ/Z 11360-2006
集成电路IP核信号完整性规范
-
GB/T 17574.9-2006
半导体器件 集成电路 第2-9部分:数字集成电路 紫外光擦除电可编程MOS只读存储器空白详细规范
-
T/CIE 067-2020
工业级高可靠集成电路评价 第1部分:AC/DC电路
-
SJ 52438.13-2002
混合集成电路 HPA2753型脉宽调制功率放大器详细规范
-
GB/T 35010.8-2018
半导体芯片产品 第8部分:数据交换的EXPRESS格式
-
GB/T 11497.1-1989
半导体集成电路CMOS电路系列和品种 54/74 HC 系列的品种