收藏到云盘
纠错反馈

GB/T 22586-2018 电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻

Electronic characteristic measurements—Surface resistance of superconductors at microwave frequencies
基本信息
  • 标准号:
    GB/T 22586-2018
  • 名称:
    电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻
  • 英文名称:
    Electronic characteristic measurements—Surface resistance of superconductors at microwave frequencies
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    国家标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2018-03-15
  • 实施日期:
    2018-10-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    实施公告【关于批准发布《普通螺纹 公差》等240项国家标准和4项国家标准修改单的公告】
    • 阅读或下载 使用APP、PC客户端等功能更强大
    • 网页在线阅读 体验阅读、搜索等基本功能
    • 用户分享资源 来自网友们上传分享的文件
    • 纸书购买 平台官方及网友推荐
分类信息
  • ICS分类:
    冶金(77) 金属材料试验(77.040) 金属材料的其他试验方法(77.040.99)
  • CCS分类:
    冶金(H) 金属理化性能试验方法(H20/29) 金属物理性能试验方法(H21)
  • 行标分类:
    暂无
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    本标准规定了在微波频率下利用双谐振器法测试超导体表面电阻的方法,测试目标是在谐振频率下RS随温度的变化。改进型镜像介质谐振器法,作为另外一种可选用的方法,在附录B中给出。本标准适用于表面电阻的测试范围如下:--频率:8 GHz
  • 引用标准:
    暂无
相关标准
  • 代替标准:
    GB/T 22586-2008
  • 引用标准:
    IEC 60050-815
  • 采用标准:
    IEC 61788-7:2006 超导电性 第7部分:电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻 (修改采用 MOD)
相关部门
  • 起草单位:
    清华大学 南京大学 中国科学院物理研究所 电子科技大学
  • 提出部门:
    中国科学院
  • 归口单位:
    全国超导标准化技术委员会(SAC/TC 265)
相关人员
暂无
关联标准
  • GB/T 1557-1989 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
  • YS/T 37.3-2007 高纯二氧化锗化学分析方法 石墨炉原子吸收光谱法测定砷量
  • GB/T 11111-1989 钨丝电阻连续测量方法
  • GB/T 8753.4-2005 铝及铝合金阳极氧化 氧化膜封孔质量的评定方法 第4部分:酸处理后的染色斑点法
  • YS/T 455.7-2006 铝箔试验方法 第7部分:铝箔厚度的测定 称量法
  • YB/T 5321-2006 膨胀合金气密性试验方法
  • YS/T 273.2-2006 冰晶石化学分析方法和物理性能测定方法 第2部分:烧减量的测定
  • GB/T 8643-2002 含润滑剂金属粉末中润滑剂含量的测定 修正的索格利特(Soxhlet) 萃取法
  • GB/T 24177-2009 双重晶粒度表征与测定方法
  • GB/T 4059-1983 硅多晶气氛区熔磷检验方法
  • GB/T 6616-1995 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定 非接触涡流法
  • SJ/T 11628-2016 太阳能电池用硅片尺寸及电学表征在线测试方法
  • YS/T 617.3-2007 铝、镁及其合金粉理化性能测定方法 第3部分: 水分的测定 干燥失重法
  • YB/T 4292-2012 电工钢带(片)几何特性测试方法
  • GB/T 19346.1-2017 非晶纳米晶合金测试方法 第1部分:环形试样交流磁性能
  • GB/T 17473.2-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定
  • GB/T 6608-1999 铝箔厚度的测定 称量法
  • YS/T 347-2004 铜及铜合金平均晶粒度测定方法
  • GB/T 4236-2016 钢的硫印检验方法
  • GB/T 14140.1-1993 硅片直径测量方法 光学投影法
用户分享资源

GB/T 22586-2018 电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻

Electronic characteristic measurements—S...
上传文件
注:本列表内文件主要来源于网友们的分享上传。如您发现有不正确不合适的内容,请及时联系客服
纠错反馈
GB/T 22586-2018 电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻
提交反馈
分类列表
确定
上传文件
完全匿名 前台匿名 显示用户名 点击选择文件
{{uploadFile.name}} {{uploadFile.sizeStr}}
目前支持上传小于100MB的PDF、OCF、OCS格式文件
注:您上传文件即代表同意平台可以公开给所有用户下载。平台会根据您的选择及实际情况,为您发放相应的直接或分成奖励。平台也可以根据实际情况需要,对您上传到服务器的文件进行调整隐藏删除等,而无需通知到您。
联系客服

纸书购买链接招商中,联系客服入驻

客服QQ: 2449276725 1455033258

1098903864 1969329120

客服电话:0379-80883238

电子邮箱:ocsyun@126.com