收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 22586-2018 电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻
Electronic characteristic measurements—Surface resistance of superconductors at microwave frequencies
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
冶金（77）
金属材料试验（77.040）
金属材料的其他试验方法（77.040.99）
】
-
CCS分类：
【
冶金（H）
金属理化性能试验方法（H20/29）
金属物理性能试验方法（H21）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
-
前言：
暂无
-
适用范围：
本标准规定了在微波频率下利用双谐振器法测试超导体表面电阻的方法，测试目标是在谐振频率下RS随温度的变化。改进型镜像介质谐振器法，作为另外一种可选用的方法，在附录B中给出。本标准适用于表面电阻的测试范围如下：--频率：8 GHz
-
引用标准：
暂无
关联标准
-
GB/T 21227-2007
交流损耗测量 Cu/Nb-Ti 多丝复合线磁滞损耗的磁强计测量法
-
GB/T 13789-1992
单片电工钢片带磁性能测量方法
-
GB/T 31351-2014
碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法
-
GB/T 4339-1999
金属材料热膨胀特征参数的测定
-
GB/T 3656-2008
软磁材料矫顽力的抛移测量方法
-
GB/T 8753.4-2005
铝及铝合金阳极氧化 氧化膜封孔质量的评定方法 第4部分:酸处理后的染色斑点法
-
GB/T 8763-2020
非蒸散型吸气材料及制品吸气性能测试方法
-
SN/T 2714-2010
冷轧不锈钢板（带）表面光反射率测试方法
-
GB/T 3170.2-1982
铝粉粒度的测定 风力手动筛分法
-
ZB H 21002-1989
热双金属螺旋形件热偏转率试验方法
-
GB/T 3246.2-2012
变形铝及铝合金制品组织检验方法 第2部分：低倍组织检验方法
-
GB/T 10129-1988
电工钢片(带)中频磁性能测量方法
-
GB/T 1551-1995
硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法
-
GB/T 32186-2015
铝及铝合金铸锭纯净度检验方法
-
YS/T 581.9-2006
氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第9部分：钼蓝分光光度法测定五氧化二磷含量
-
GB/T 1552-1995
硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法
-
YS/T 516-2006
钨丝二次再结晶温度测量方法
-
GB/T 4326-1984
非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
-
GB/T 1425-1996
贵金属及其合金熔化温度范围的测定 热分析试验方法
-
GB/T 26303.3-2010
铜及铜合金加工材外形尺寸检测方法 第3部分 板带材
GB/T 22586-2018 电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻
Electronic characteristic measurements—S...
上传文件
阅读或下载
GB/T 22586-2018 电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻
提交反馈
确定
完全匿名
前台匿名
显示用户名
点击选择文件
{{uploadFile.name}}
{{uploadFile.sizeStr}}
目前支持上传小于100MB的PDF、OCF、OCS格式文件
纸书购买链接招商中，联系客服入驻
打开设置，点击
执行注册
