收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 22586-2018 电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻
Electronic characteristic measurements—Surface resistance of superconductors at microwave frequencies
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
冶金（77）
金属材料试验（77.040）
金属材料的其他试验方法（77.040.99）
】
-
CCS分类：
【
冶金（H）
金属理化性能试验方法（H20/29）
金属物理性能试验方法（H21）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
-
前言：
暂无
-
适用范围：
本标准规定了在微波频率下利用双谐振器法测试超导体表面电阻的方法，测试目标是在谐振频率下RS随温度的变化。改进型镜像介质谐振器法，作为另外一种可选用的方法，在附录B中给出。本标准适用于表面电阻的测试范围如下：--频率：8 GHz
-
引用标准：
暂无
关联标准
-
GB/T 4195-1984
钨、钼粉末粒度分布测试方法(沉降天平法)
-
GB/T 2596-1981
钨粉、碳化钨粉比表面积 (平均粒度) 测定(简化氮吸附法)
-
GB/T 30655-2014
氮化物LED外延片内量子效率测试方法
-
GB/T 3217-1992
永磁(硬磁)材料磁性试验方法
-
GB/T 30869-2014
太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法
-
GB/T 11073-1989
硅片径向电阻率变化的测量方法
-
YS/T 1490-2021
镍基高温合金粉末夹杂物含量检测方法
-
GB/T 30653-2014
Ⅲ族氮化物外延片结晶质量测试方法
-
YS/T 617.8-2007
铝、镁及其合金粉理化性能测定方法 第8部分: 松装密度的测定
-
SY/T 0599-1997
天然气地面设施抗硫化物应力开裂金属材料要求
-
YS/T 348-1994
电阻温度系数测试方法
-
GB/T 8753.1-2005
铝及铝合金阳极氧化 氧化膜封孔质量的评定方法 第1部分:无硝酸预浸的磷铬酸法
-
SN/T 3099-2012
硅钢环境性能评价方法
-
YB/T 5360-2020
金属材料 定量极图的测定 X射线衍射法
-
GB/T 17473.3-1998
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定
-
YS/T 14-2015
异质外延层和硅多晶层厚度的测量方法
-
GB/T 16596-1996
确定晶片坐标系规范
-
GB/T 38786-2020
镁及镁合金铸锭纯净度检验方法
-
YS/T 273.2-2006
冰晶石化学分析方法和物理性能测定方法 第2部分：烧减量的测定
-
GB/T 40380.2-2021
金属粉末 高温时松装密度和流速的测定 第2部分：高温时流速的测定
GB/T 22586-2018 电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻
Electronic characteristic measurements—S...
上传文件
阅读或下载
GB/T 22586-2018 电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻
提交反馈
确定
完全匿名
前台匿名
显示用户名
点击选择文件
{{uploadFile.name}}
{{uploadFile.sizeStr}}
目前支持上传小于100MB的PDF、OCF、OCS格式文件
纸书购买链接招商中，联系客服入驻
打开设置，点击
执行注册
