收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 35086-2018 MEMS电场传感器通用技术条件
General specification for MEMS electric field sensor
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
集成电路、微电子学(31.200)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
微电路(L55/59)
微电路综合(L55)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
SJ/Z 11352-2006
集成电路IP核测试数据交换格式和准则规范
-
GB/T 14027.6-1992
半导体集成电路通信电路系列和品种 频率合成器系列品种
-
SJ/T 11705-2018
微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法
-
GB/T 6815-1986
半导体集成非线性电路系列和品种 锁相环的品种
-
GB/T 12750-2006
半导体器件 集成电路 第11部分:半导体集成电路分规范(不包括混合电路)
-
GB/T 11498-2018
半导体器件 集成电路 第21部分:膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)
-
GB/T 6648-1986
半导体集成电路静态读/ 写存储器空白详细规范(可供认证用)
-
SJ/T 11699-2018
IP核可测性设计指南
-
GB/T 33929-2017
MEMS高g值加速度传感器性能试验方法
-
SJ 20802-2001
集成电路金属外壳目检标准
-
GB/T 34899-2017
微机电系统(MEMS)技术 基于拉曼光谱法的微结构表面应力测试方法
-
GB/T 14862-1993
半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法
-
GB/T 3432.4-1989
半导体集成电路TTL电路系列和品种 54/74LS系列的品种
-
GB/T 16525-2015
半导体集成电路 塑料有引线片式载体封装引线框架规范
-
GB/T 17865-1999
焦深与最佳聚焦的测量规范
-
SJ/Z 11351-2006
用于描述、选择和转让的集成电路IP核属性格式标准
-
SJ/T 10741-2000
半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
-
GB/T 6812-1986
半导体集成非线性电路系列和品种 模拟乘-除法器的品种
-
GB/T 9425-1988
半导体集成电路运算放大器空白详细规范 (可供认证用)
-
GB/T 11497.1-1989
半导体集成电路CMOS电路系列和品种 54/74 HC 系列的品种