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GB/T 36969-2018 纳米技术 原子力显微术测定纳米薄膜厚度的方法
Nanotechnology—Method for the measurement of the nanofilm-thickness by atomic force microscopy
基本信息
分类信息
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ICS分类:
【
计量学和测量、物理现象(17)
长度和角度测量(17.040)
表面特征(17.040.20)
】
-
CCS分类:
【
机械(J)
机械综合(J00/09)
基础标准与通用方法(J04)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
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