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GB/T 36655-2018 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法
Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method
基本信息
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标准号：
GB/T 36655-2018
-
名称：
电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法
-
英文名称：
Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method
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状态：
现行
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类型：
国家标准
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性质：
推荐性
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发布日期：
2018-09-17
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实施日期：
2019-01-01
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废止日期：
暂无
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相关公告：
实施公告【关于批准发布《中小学校普通教室照明设计安装卫生要求》等454项国家标准和6项国家标准修改单的公告】
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分类信息
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ICS分类：
【
电子学（31）
电子技术专用材料（31.030）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
电子设备与专用材料、零件、结构件（L90/94）
电子技术专用材料（L90）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
归口单位：
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC
203)
-
主管部门：
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC
203)
-
起草单位：
江苏联瑞新材料股份有限公司
国家硅材料深加工产品质量监督检验中心
汉高华威电子有限公司
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