收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 36655-2018 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法
Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method
基本信息
-
标准号：
GB/T 36655-2018
-
名称：
电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法
-
英文名称：
Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method
-
状态：
现行
-
类型：
国家标准
-
性质：
推荐性
-
发布日期：
2018-09-17
-
实施日期：
2019-01-01
-
废止日期：
暂无
-
相关公告：
实施公告【关于批准发布《中小学校普通教室照明设计安装卫生要求》等454项国家标准和6项国家标准修改单的公告】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类：
【
电子学（31）
电子技术专用材料（31.030）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
电子设备与专用材料、零件、结构件（L90/94）
电子技术专用材料（L90）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
归口单位：
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC
203)
-
主管部门：
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC
203)
-
起草单位：
江苏联瑞新材料股份有限公司
国家硅材料深加工产品质量监督检验中心
汉高华威电子有限公司
相关人员
关联标准
-
SJ 680-1983
DB-413电真空玻璃主要技术数据
-
GB/T 5594.4-2015
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法
-
SJ/T 11042-1996
电子玻璃体积电阻率为１００ＭΩ·ｃｍ时的温度（Ｔｋ－１００）的测试方法
-
JB/T 9493.5-1999
锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法 硅钼兰光度法测定硅量
-
GB/T 4182-1997
钼丝
-
SJ/T 3200-2016
银钎焊接头规范
-
SJ 1854-1981
电子陶瓷粘土中杂质的原子吸收分光光度测定法
-
GB/T 31370.3-2015
平板显示器（FPD）彩色滤光片测试方法 第3部分：耐热性
-
GB/T 11446.9-1997
电子级水中微粒的仪器测试方法
-
GB/T 11297.1-2017
激光棒波前畸变的测量方法
-
GB/T 40563-2021
氟化物红色荧光粉
-
GB/T 3504-1992
荧光级氧化铕
-
JB/T 8902-2014
变送器用恒弹性合金棒材
-
SJ 686-1983
DH-704电真空玻璃主要技术数据
-
GB/T 36648-2018
TFT单体液晶材料规范
-
GB/T 4181-2017
钨丝
-
GB/T 28159-2011
电子级磷酸
-
SJ/T 11207-1999
钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法
-
GB/T 11446.4-1997
电子级水电阻率的测试方法
-
GB/T 5838.3-2015
荧光粉 第3部分：性能试验方法
打开设置，点击
执行注册
