收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 36655-2018 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法
Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method
基本信息
-
标准号：
GB/T 36655-2018
-
名称：
电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法
-
英文名称：
Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method
-
状态：
现行
-
类型：
国家标准
-
性质：
推荐性
-
发布日期：
2018-09-17
-
实施日期：
2019-01-01
-
废止日期：
暂无
-
相关公告：
实施公告【关于批准发布《中小学校普通教室照明设计安装卫生要求》等454项国家标准和6项国家标准修改单的公告】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类：
【
电子学（31）
电子技术专用材料（31.030）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
电子设备与专用材料、零件、结构件（L90/94）
电子技术专用材料（L90）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
归口单位：
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC
203)
-
主管部门：
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC
203)
-
起草单位：
江苏联瑞新材料股份有限公司
国家硅材料深加工产品质量监督检验中心
汉高华威电子有限公司
相关人员
关联标准
-
GB/T 4184-2002
钨铼合金丝
-
GB 11295-1989
激光晶体棒型号命名方法
-
GB/T 34983-2017
光伏用树脂金刚石切割线
-
SJ 1854-1981
电子陶瓷粘土中杂质的原子吸收分光光度测定法
-
SJ/T 11483-2014
锂离子电池用电解铜箔
-
SJ 669-1973
DW-216电真空玻璃主要技术数据
-
SJ/T 11140-2012
铝电解电容器用电极箔
-
GB/T 11297.11-2015
热释电材料介电常数的测试方法
-
DB13/T 5537-2022
河北省向列相热致液晶单体电阻率的测定 直流电压法
-
GB/T 36965-2018
光伏组件用乙烯—醋酸乙烯共聚物交联度测试方法 差示扫描量热法
-
GB/T 14619-2013
厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
-
SJ 681-1983
DB-456电真空玻璃主要技术数据
-
GB/T 4184-2021
钨铼合金丝
-
JB/T 6173-2014
免清洗无铅助焊剂
-
SJ/T 11598-2016
电子工业用氢化铝钠
-
GB 11114-1989
人造石英晶体位错的X射线形貌检测方法
-
GB/T 32643-2016
平板显示器基板玻璃表面波纹度的测量方法
-
GB 11446.6-1989
电子级水中痕量二氧化硅的分光光度测试方法
-
GB/T 28859-2012
电子元器件用环氧粉末包封料
-
SJ 20894-2003
电子设备零部件包封灌封材料选择与使用
打开设置，点击
执行注册
