收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 36655-2018 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法
Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method
基本信息
-
标准号：
GB/T 36655-2018
-
名称：
电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法
-
英文名称：
Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method
-
状态：
现行
-
类型：
国家标准
-
性质：
推荐性
-
发布日期：
2018-09-17
-
实施日期：
2019-01-01
-
废止日期：
暂无
-
相关公告：
实施公告【关于批准发布《中小学校普通教室照明设计安装卫生要求》等454项国家标准和6项国家标准修改单的公告】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类：
【
电子学（31）
电子技术专用材料（31.030）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
电子设备与专用材料、零件、结构件（L90/94）
电子技术专用材料（L90）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
归口单位：
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC
203)
-
主管部门：
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC
203)
-
起草单位：
江苏联瑞新材料股份有限公司
国家硅材料深加工产品质量监督检验中心
汉高华威电子有限公司
相关人员
关联标准
-
JB/T 9499.1-1999
康铜电阻合金化学分析方法 电解重量法测定铜量
-
GB 11297.8-1989
热释电材料热释电系数的测试方法
-
GB/T 5594.1-1985
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法
-
GB/T 28859-2012
电子元器件用环氧粉末包封料
-
GB/T 25495-2010
吸气剂金属释放特性测试方法
-
GB/T 11446.10-1997
电子级水中细菌总数的滤膜培养测试方法
-
GB/T 16523-1996
圆形石英玻璃光掩模基板规范
-
GB 11297.2-1989
激光棒侧向散射系数的测量方法
-
JB/T 9502-1999
锰铜精密电阻合金
-
GB/T 9491-2002
锡焊用液态焊剂(松香基)
-
GB/T 16527-1996
硬面感光板中光致抗蚀剂和电子束抗蚀剂规范
-
SJ 671-1983
DW-270电真空玻璃主要技术数据
-
GB/T 29848-2018
光伏组件封装用乙烯-醋酸乙烯酯共聚物(EVA)胶膜
-
SJ 2413-1983
DB-481电真空玻璃主要技术数据
-
GB/T 11446.9-2013
电子级水中微粒的仪器测试方法
-
SJ 20966-2006
软磁铁氧体材料测量方法
-
JB/T 9495.1-1999
光学晶体
-
SJ/T 11507-2015
集成电路用 氧化层缓冲腐蚀液
-
GB/T 37275-2018
掺钕钇铝石榴石激光棒激光阈值及斜率效率测量方法
-
T/CEMIA 021-2019
厚膜集成电路用电阻浆料规范
打开设置，点击
执行注册
