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GB/T 36655-2018 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法

Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method
基本信息
  • 标准号：
    GB/T 36655-2018
  • 名称：
    电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法
  • 英文名称：
    Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    国家标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2018-09-17
  • 实施日期：
    2019-01-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    实施公告【关于批准发布《中小学校普通教室照明设计安装卫生要求》等454项国家标准和6项国家标准修改单的公告】
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    本标准规定了电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的XRD测试方法。
    本标准适用于电子封装用球形二氧化硅微粉中检测α态晶体二氧化硅含量，其他无定形二氧化硅含量的检测也可参照本标准执行。α态晶体二氧化硅含量测试范围0.5%以下半定量分析，0.5%~5%定量分析。
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
  • 引用标准：
    JY/T 009
相关部门
  • 归口单位：
    全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)
  • 主管部门：
    全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)
  • 起草单位：
    江苏联瑞新材料股份有限公司 国家硅材料深加工产品质量监督检验中心 汉高华威电子有限公司
相关人员
暂无
关联标准