收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 36614-2018 集成电路 存储器引出端排列
Integrated circuits—Memory devices pin configuration基本信息
- 标准号:GB/T 36614-2018
- 名称:集成电路 存储器引出端排列
- 英文名称:Integrated circuits—Memory devices pin configuration
- 状态:现行
- 类型:国家标准
- 性质:推荐性
- 发布日期:2018-09-17
- 实施日期:2019-01-01
- 废止日期:暂无
- 相关公告:
分类信息
- ICS分类:【 】
- CCS分类:【 】
- 行标分类:暂无
描述信息
- 前言:暂无
- 适用范围:本标准规定了半导体集成电路存储器的引出端排列。本标准适用于半字节动态存储器、字宽动态存储器、字节宽动态存储器、半字节同步动态存储器、字节宽同步动态存储器、字宽同步动态存储器的引出端排列。
- 引用标准:暂无
相关标准
- 引用标准:GB/T 7092-1993 GB/T 9178-1988 GB/T 16464-1996
- 采用标准:IEC 61964:1999 集成电路 存储器引出端排列 (修改采用 MOD)
相关部门
- 起草单位:工业和信息化部电子第五研究所 深圳市国微电子股份有限公司 中科院微电子所
- 归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
- 主管部门:全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
相关人员
暂无
关联标准
- GB/T 36479-2018 集成电路 焊柱阵列试验方法
- GB/T 14027.1-1992 半导体集成电路通信电路系列和品种 有源滤波器系列品种
- GB/T 32814-2016 硅基MEMS制造技术 基于SOI硅片的MEMS工艺规范
- GB/T 12844-1991 半导体集成电路非线性电路系列和品种 采样/ 保持放大器的品种
- GB/T 15879-1995 半导体器件的机械标准化 第5部分:用于集成电路载带自动焊(TAB)的推荐值
- GB/T 14114-1993 半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理
- GB/T 15877-1995 蚀刻型双列封装引线框架规范
- SJ/T 11585-2016 串行存储器接口要求
- GB/T 4855-1984 半导体集成电路线性放大器系列和品种
- GB/T 15879.5-2018 半导体器件的机械标准化 第5部分:用于集成电路载带自动焊(TAB)的推荐值
- SJ/Z 11352-2006 集成电路IP核测试数据交换格式和准则规范
- GB/T 15138-1994 膜集成电路和混合集成电路外形尺寸
- GB/T 15650-1995 半导体集成电路系列和品种 CMOS门阵列电路系列的品种
- GB/T 15509-1995 半导体集成电路系列和品种 彩电遥控器用电路系列的品种
- GB/T 14027.4-1992 半导体集成电路通信电路系列和品种 双音多频电路系列品种
- SJ/Z 11360-2006 集成电路IP核信号完整性规范
- GB/T 4376-1994 半导体集成电路 电压调整器系列和品种
- GB/T 6800-1986 半导体集成音响电路音频功率放大器测试方法的基本原理
- GB/T 19403.1-2003 半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)
- GB/T 15136-1994 半导体集成电路石英钟表电路测试方法的基本原理