收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 36614-2018 集成电路 存储器引出端排列
Integrated circuits—Memory devices pin configuration
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
集成电路、微电子学(31.200)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
微电路(L55/59)
微电路综合(L55)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
起草单位:
工业和信息化部电子第五研究所
深圳市国微电子股份有限公司
中科院微电子所
-
归口单位:
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC
78)
-
主管部门:
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC
78)
相关人员
关联标准
-
GB/T 11497.2-1989
半导体集成电路CMOS电路系列和品种 54/74 HCT 系列的品种
-
GB/T 38341-2019
微机电系统(MEMS)技术 MEMS器件的可靠性综合环境试验方法
-
GB/T 6798-1996
半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
-
GB/T 14027.4-1992
半导体集成电路通信电路系列和品种 双音多频电路系列品种
-
GB/T 35010.4-2018
半导体芯片产品 第4部分:芯片使用者和供应商要求
-
GB/T 32815-2016
硅基MEMS制造技术 体硅压阻加工工艺规范
-
SJ/T 11699-2018
IP核可测性设计指南
-
GB/T 33922-2017
MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法
-
GB/T 35010.8-2018
半导体芯片产品 第8部分:数据交换的EXPRESS格式
-
SJ/Z 11355-2006
集成电路IP/SoC功能验证规范
-
GB/T 14024-1992
内燃机电站无线电干扰特性的测量方法及允许值 传导干扰
-
GB/T 15877-2013
半导体集成电路 蚀刻型双列封装引线框架规范
-
GB/T 12084-1989
半导体集成电路TTL 电路系列和品种 54/74F系列的品种
-
GB/T 7092-1993
半导体集成电路外形尺寸
-
SJ/T 11703-2018
数字微电子器件封装的串扰特性测试方法
-
GB/T 17940-2000
半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
-
GB/T 17574.9-2006
半导体器件 集成电路 第2-9部分:数字集成电路 紫外光擦除电可编程MOS只读存储器空白详细规范
-
SJ/T 11704-2018
微电子封装的数字信号传输特性测试方法
-
GB/T 14032-1992
半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
-
GB/T 14027.3-1992
半导体集成电路通信电路系列和品种 模拟开关阵列系列品种