收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 36613-2018 发光二极管芯片点测方法
Probe test method for light emitting diode chips
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
光电子学、激光设备(31.260)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
半导体分立器件(L40/49)
微波、毫米波二、三极管(L45)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 11297.2-1989
激光棒侧向散射系数的测量方法
-
GB/T 18490.1-2017
机械安全 激光加工机 第1部分:通用安全要求
-
GB/T 18490-2001
激光加工机械安全要求
-
GB/T 5295-1985
光电阴极光谱响应特性系列
-
SJ/T 11466-2014
红外遥控接收放大器
-
GB/T 15175-1994
固体激光器主要参数测试方法
-
GB/T 29299-2012
半导体激光测距仪通用技术条件
-
GB/T 41310-2022
视觉模组光电性能的图像式检测方法
-
GB/Z 18462-2001
激光加工机械 金属切割的性能规范与标准检查程序
-
GB/T 37031-2018
半导体照明术语
-
SJ/T 11400-2009
半导体光电子器件 小功率半导体发光二极管空白详细规范
-
SJ/T 11578-2016
LED模块电光转换效率要求
-
GB/T 15490-1995
固体激光器总规范
-
SJ/T 2658.15-2016
半导体红外发射二极管测量方法 第15部分:热阻
-
GB/T 14078-2010
氦氖激光器技术条件
-
GB/T 38248-2019
家用激光显示系统光辐射安全特性评价方法
-
GB/T 7257-1987
氦氖激光器参数测试方法
-
GB/T 7247.3-2016
激光产品的安全 第3部分:激光显示与表演指南
-
GB 7247.1-2012
激光产品的安全 第1部分:设备分类、要求
-
GB/T 21548-2008
光通信用高速直接调制半导体激光器的测量方法