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GB/T 36613-2018 发光二极管芯片点测方法
Probe test method for light emitting diode chips
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
光电子学、激光设备(31.260)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
半导体分立器件(L40/49)
微波、毫米波二、三极管(L45)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
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