收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 36613-2018 发光二极管芯片点测方法
Probe test method for light emitting diode chips
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
光电子学、激光设备(31.260)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
半导体分立器件(L40/49)
微波、毫米波二、三极管(L45)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
JB/T 9490-1999
二氧化碳激光器 主要参数测试方法
-
DB35/T 1176-2011
福建省道路照明用功率发光二极管
-
GB/T 11297.5-1989
掺钕钇铝石榴石激光棒连续激光阈值、斜率效率和输出功率的测量方法
-
GB/T 15167-1994
半导体激光光源总规范
-
GB 10320-1995
激光设备和设施的电气安全
-
JB/T 10875-2008
发光二极管光学性能测试方法
-
GB/T 15490-1995
固体激光器总规范
-
SJ/T 11394-2009
半导体发光二极管测试方法
-
GB/T 14078-2010
氦氖激光器技术条件
-
GB/T 13739-2011
激光光束宽度、发散角的测试方法以及横模的鉴别方法
-
SJ/T 11581-2016
LED模块加速寿命试验方法
-
GB/T 11295-1989
激光晶体棒型号命名方法
-
GB/T 16601.4-2017
激光器和激光相关设备 激光损伤阈值测试方法 第4部分:检查、探测和测量
-
GB/T 7247.3-2016
激光产品的安全 第3部分:激光显示与表演指南
-
GB/T 37958-2019
视频监控系统主动照明部件光辐射安全要求
-
DB42/T 1346-2018
湖北省全波形三维激光扫描仪技术条件
-
GB/T 38248-2019
家用激光显示系统光辐射安全特性评价方法
-
GB/T 4799-2011
激光器型号命名方法
-
JB/T 10785-2007
大功率横流连续波二氧化碳激光器
-
GB/Z 18462-2001
激光加工机械 金属切割的性能规范与标准检查程序