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GB/T 4937.201-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第20-1部分:对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 20-1: Handling, packing, labelling and shipping of surface-mount devices sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat
基本信息
标准号:
GB/T 4937.201-2018
名称:
半导体器件 机械和气候试验方法 第20-1部分:对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输
英文名称:
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 20-1: Handling, packing, labelling and shipping of surface-mount devices sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat
状态:
现行
类型:
国家标准
性质:
推荐性
发布日期:
2018-09-17
实施日期:
2019-01-01
废止日期:
暂无
相关公告:
实施公告【关于批准发布《中小学校普通教室照明设计安装卫生要求》等454项国家标准和6项国家标准修改单的公告】
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分类信息
ICS分类:
【
电子学(31)
半导体分立器件(31.080)
半导体分立器件综合(31.080.01)
】
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
半导体分立器件(L40/49)
半导体分立器件综合(L40)
】
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
起草单位:
深圳市标准技术研究院
中国电子科技集团公司第十三研究所
广东检验检疫技术中心
归口单位:
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC
78)
主管部门:
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC
78)
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