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GB/T 4937.30-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分：非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
基本信息
  • 标准号：
    GB/T 4937.30-2018
  • 名称：
    半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分：非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理
  • 英文名称：
    Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    国家标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2018-09-17
  • 实施日期：
    2019-01-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    实施公告【关于批准发布《中小学校普通教室照明设计安装卫生要求》等454项国家标准和6项国家标准修改单的公告】
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    暂无
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
  • 引用标准：
    GB/T 4937.20-2018 IEC 60749-4 IEC 60749-5 IEC 60749-11 IEC 60749-24 IEC 60749-25:2003 IEC 60749-33
  • 采用标准：
    IEC 60749-30:2011 半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分:非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理 （等同采用 IDT）
相关部门
  • 起草单位：
    深圳市标准技术研究院 中国电子科技集团公司第十三研究所
  • 归口单位：
    全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
  • 主管部门：
    全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
相关人员
暂无
关联标准