收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 4937.20-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第20部分:塑封表面安装器件耐潮湿和焊接热综合影响
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
基本信息
标准号:
GB/T 4937.20-2018
名称:
半导体器件 机械和气候试验方法 第20部分:塑封表面安装器件耐潮湿和焊接热综合影响
英文名称:
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
状态:
现行
类型:
国家标准
性质:
推荐性
发布日期:
2018-09-17
实施日期:
2019-01-01
废止日期:
暂无
相关公告:
实施公告【关于批准发布《中小学校普通教室照明设计安装卫生要求》等454项国家标准和6项国家标准修改单的公告】
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
ICS分类:
【
电子学(31)
半导体分立器件(31.080)
半导体分立器件综合(31.080.01)
】
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
半导体分立器件(L40/49)
半导体分立器件综合(L40)
】
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
GB/T 12300-1990
功率晶体管安全工作区测试方法
DB52/T 844-2013
贵州省半导体电流调整管
GB/T 4937.21-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第21部分:可焊性
GB/T 15852.2-2012
信息技术 安全技术 消息鉴别码 第2部分:采用专用杂凑函数的机制
DB12/T 413-2009
天津市LED密排管测试方法
GB 12560-1990
半导体器件 分立器件分规范 (可供认证用)
DB52/T 1104-2016
贵州省半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法
SJ 1608-1980
硅双基极二极管各点电压和各点电流的测试方法
SJ 1605-1980
硅双基极二极管饱和压降的测试方法
SJ 50033/160-2002
半导体分立器件 3DG122型硅超高频小功率晶体管详细规范
GB/T 20995-2007
输配电系统的电力电子技术 静止无功补偿装置用晶闸管阀的试验
SJ 50033/155-2002
半导体分立器件 3DG252型硅微波线性晶体管详细规范
GB/T 20870.1-2007
半导体器件 第16-1部分:微波集成电路 放大器
GB/T 4937.2-2006
半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压
GB/T 22181.21-2008
等离子体显示器件 第2-1部分:光学参数测量方法
GB/T 249-1989
半导体分立器件型号命名方法
GB/T 4937.3-2012
半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分:外部目检
GB/T 4937.18-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分:电离辐照(总剂量)
JB/T 11050-2010
交流固态继电器
GB/T 4937.15-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第15部分:通孔安装器件的耐焊接热