GB/T 4937.18-2018 半导体器件机械和气候试验方法第18部分：电离辐照(总剂量)

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Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 18: Ionizing radiation (total dose)

基本信息

标准号：

GB/T 4937.18-2018
名称：

半导体器件机械和气候试验方法第18部分：电离辐照(总剂量)
英文名称：

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 18: Ionizing radiation (total dose)
状态：

现行
类型：

国家标准
性质：

推荐性
发布日期：

2018-09-17
实施日期：

2019-01-01
废止日期：

暂无
相关公告：

实施公告【关于批准发布《中小学校普通教室照明设计安装卫生要求》等454项国家标准和6项国家标准修改单的公告】

分类信息

描述信息

前言：

暂无
适用范围：

GB/T 4937的本部分对已封装的半导体集成电路和半导体分立器件进行60Co γ射线源电离辐射总剂量试验提供了一种试验程序。本部分提供了评估低剂量率电离辐射对器件作用的加速退火试验方法。这种退火试验对低剂量率辐射或者器件在某些应用情况下表现出时变效应的应用情形是比较重要的。本部分仅适用于稳态辐照，并不适用于脉冲型辐照。本部分主要针对军事或空间相关的应用。本试验可能会导致辐照器件的电性能产生严重退化，因而被认为是破坏性试验。
引用标准：

暂无