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GB/T 4937.17-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分：中子辐照

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 17: Neutron irradiation
基本信息
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    GB/T 4937的本部分是为了测定半导体器件在中子环境中性能退化的敏感性。本部分适用于集成电路和半导体分立器件。中子辐照主要针对军事或空间相关的应用，是一种破坏性试验。试验目的如下：a）〓检测和测量半导体器件关键参数的退化与中子注量的关系；b）〓确定规定的半导体器件参数在接受规定水平的中子注量辐射之后是否在规定的极限值之内（见第4章）。
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
  • 采用标准：
    IEC 60749-17:2003 半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分:中子辐照 （等同采用 IDT）
相关部门
  • 起草单位：
    中国科学院新疆理化技术研究所 中国电子科技集团公司第十三研究所 西北核技术研究所
  • 归口单位：
    全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
  • 主管部门：
    全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
相关人员
暂无
关联标准