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GB/T 4937.13-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 13: Salt atmosphere
基本信息
分类信息
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    GB/T 4937的本部分规定了半导体器件的盐雾试验方法,以确定半导体器件耐腐蚀的能力。本试验是模拟严酷的海边大气对器件暴露表面影响的加速试验。适用于工作在海上和沿海地区的器件。
    本试验是破坏性试验。
    本试验总体上符合IEC 60068-2-11,但鉴于半导体器件的特殊要求,采用本部分的条款。
  • 引用标准:
    暂无
相关标准
  • 引用标准:
    IEC 60749-14 IEC 60068-2-11
  • 采用标准:
    IEC 60749-13:2002 半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾 (等同采用 IDT)
相关部门
  • 起草单位:
    中国电子科技集团公司第十三研究所 北京大学微电子研究院 无锡必创传感科技有限公司
  • 归口单位:
    全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
  • 主管部门:
    全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
相关人员
暂无