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GB/T 4937.13-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 13: Salt atmosphere基本信息
- 标准号:GB/T 4937.13-2018
- 名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾
- 英文名称:Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 13: Salt atmosphere
- 状态:现行
- 类型:国家标准
- 性质:推荐性
- 发布日期:2018-09-17
- 实施日期:2019-01-01
- 废止日期:暂无
- 相关公告:
分类信息
- ICS分类:【 】
- CCS分类:【 】
- 行标分类:暂无
描述信息
- 前言:暂无
- 适用范围:GB/T 4937的本部分规定了半导体器件的盐雾试验方法,以确定半导体器件耐腐蚀的能力。本试验是模拟严酷的海边大气对器件暴露表面影响的加速试验。适用于工作在海上和沿海地区的器件。
本试验是破坏性试验。
本试验总体上符合IEC 60068-2-11,但鉴于半导体器件的特殊要求,采用本部分的条款。 - 引用标准:暂无
相关标准
- 引用标准:IEC 60749-14 IEC 60068-2-11
- 采用标准:IEC 60749-13:2002 半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾 (等同采用 IDT)
相关部门
- 起草单位:中国电子科技集团公司第十三研究所 北京大学微电子研究院 无锡必创传感科技有限公司
- 归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
- 主管部门:全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
相关人员
暂无
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