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GB/T 4937.12-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 12: Vibration, variable frequency
基本信息
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    GB/T 4937的本部分的目的是测定在规定频率范围内，振动对器件的影响。本试验是破坏性试验，通常用于有空腔的器件。本试验与GB/T 2423.10-2008基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
  • 引用标准：
    GB/T 2423.10-2008
  • 采用标准：
    IEC 60749-12:2002 半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分:扫频振动 （等同采用 IDT）
相关部门
  • 起草单位：
    中国电子科技集团公司第十三研究所
  • 归口单位：
    全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
  • 主管部门：
    工业和信息化部（电子）
相关人员
暂无
关联标准