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GB/T 36479-2018 集成电路 焊柱阵列试验方法
Integrated circuits—Test methods for column grid array
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
电子学（31）
集成电路、微电子学（31.200）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
微电路（L55/59）
微电路综合（L55）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
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起草单位：
中国电子技术标准化研究院
中国电子科技集团公司第五十八研究所
-
归口单位：
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC
78)
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主管部门：
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC
78)
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