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GB/T 36479-2018 集成电路 焊柱阵列试验方法
Integrated circuits—Test methods for column grid array
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
集成电路、微电子学(31.200)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
微电路(L55/59)
微电路综合(L55)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
起草单位:
中国电子技术标准化研究院
中国电子科技集团公司第五十八研究所
-
归口单位:
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC
78)
-
主管部门:
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC
78)
相关人员
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