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GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法

Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory
基本信息
  • 标准号：
    GB/T 36477-2018
  • 名称：
    半导体集成电路 快闪存储器测试方法
  • 英文名称：
    Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    国家标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2018-06-07
  • 实施日期：
    2019-01-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    实施公告【关于批准发布《工业硼酸》等393项国家标准和7项国家标准外文版的公告】
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    本标准规定了半导体集成电路快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能测试的基本方法。
    本标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试。
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
  • 引用标准：
    GB/T 17574-1998
相关部门
  • 起草单位：
    中国电子技术标准化研究院 中兴通讯股份有限公司 复旦大学 上海复旦微电子集团股份有限公司 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 深圳市中兴微电子技术有限公司 北京兆易创新科技股份有限公司
  • 归口单位：
    全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
  • 主管部门：
    全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
相关人员
暂无
关联标准