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GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法
Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
电子学（31）
集成电路、微电子学（31.200）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
微电路（L55/59）
半导体集成电路（L56）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
起草单位：
中国电子技术标准化研究院
中兴通讯股份有限公司
复旦大学
上海复旦微电子集团股份有限公司
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
深圳市中兴微电子技术有限公司
北京兆易创新科技股份有限公司
-
归口单位：
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC
78)
-
主管部门：
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC
78)
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