收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法
Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
电子学（31）
集成电路、微电子学（31.200）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
微电路（L55/59）
半导体集成电路（L56）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
起草单位：
中国电子技术标准化研究院
中兴通讯股份有限公司
复旦大学
上海复旦微电子集团股份有限公司
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
深圳市中兴微电子技术有限公司
北京兆易创新科技股份有限公司
-
归口单位：
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC
78)
-
主管部门：
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC
78)
相关人员
关联标准
-
GB/T 34898-2017
微机电系统（MEMS）技术 MEMS谐振敏感元件非线性振动测试方法
-
GB/T 14112-1993
半导体集成电路 塑料双列封装冲制型引线框架规范
-
GB/T 14031-1992
半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
-
GB/T 14112-2015
半导体集成电路 塑料双列封装冲制型引线框架规范
-
GB/T 26113-2010
微机电系统（MEMS）技术 微几何量评定总则
-
GB/T 11498-2018
半导体器件 集成电路 第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)
-
GB/T 35008-2018
串行NOR型快闪存储器接口规范
-
GB/T 6815-1986
半导体集成非线性电路系列和品种 锁相环的品种
-
GB/T 16527-1996
硬面感光板中光致抗蚀剂和电子束抗蚀剂规范
-
SJ 50597/57-2003
半导体集成电路 JW584/JW584A型可编程电压基准详细规范
-
GB/T 17571-1998
碱性二次电池和电池组 扣式密封镉镍可充整体电池组
-
SJ 20075-1992
半导体集成电路Jμ8259A型可编程中断控制器详细规范
-
GB/T 20515-2006
半导体器件 集成电路 第5部分：半定制集成电路
-
GB/T 12750-2006
半导体器件 集成电路 第11部分：半导体集成电路分规范(不包括混合电路)
-
GB 11494-1989
电子器件详细规范 半导体集成电路CD7698CP行场扫描及色处理电路
-
GB/T 4855-1984
半导体集成电路线性放大器系列和品种
-
GB/T 14115-1993
半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
-
GB/T 15509-1995
半导体集成电路系列和品种 彩电遥控器用电路系列的品种
-
GB/T 17574.9-2006
半导体器件 集成电路 第2-9部分：数字集成电路 紫外光擦除电可编程MOS只读存储器空白详细规范
-
GB/T 38447-2020
微机电系统（MEMS）技术 MEMS结构共振疲劳试验方法
打开设置，点击
执行注册
