收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 36474-2018 半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法
Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for double data rate 3 synchronous dynamic random access memory(DDR3 SDRAM)
基本信息
-
标准号：
GB/T 36474-2018
-
名称：
半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法
-
英文名称：
Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for double data rate 3 synchronous dynamic random access memory(DDR3 SDRAM)
-
状态：
现行
-
类型：
国家标准
-
性质：
推荐性
-
发布日期：
2018-06-07
-
实施日期：
2019-01-01
-
废止日期：
暂无
-
相关公告：
实施公告【关于批准发布《工业硼酸》等393项国家标准和7项国家标准外文版的公告】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类：
【
电子学（31）
集成电路、微电子学（31.200）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
微电路（L55/59）
半导体集成电路（L56）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
起草单位：
中国电子技术标准化研究院
西安紫光国芯半导体有限公司
上海高性能集成电路设计中心
武汉芯动科技有限公司
成都华微电子科技有限公司
-
归口单位：
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC
78)
-
主管部门：
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC
78)
相关人员
关联标准
-
GB/T 34894-2017
微机电系统（MEMS）技术 基于光学干涉的MEMS微结构应变梯度测量方法
-
GB/T 16525-1996
塑料有引线片式载体封装引线框架规范
-
GB/T 26113-2010
微机电系统（MEMS）技术 微几何量评定总则
-
GB/T 3432.2-1989
半导体集成电路TTL电路系列和品种 54/74H系列的品种
-
GB/T 35010.4-2018
半导体芯片产品 第4部分：芯片使用者和供应商要求
-
SJ 20158-1992
半导体集成电路JT54S151、JT54S153和JT54S157型S—TTL 数据选择器详细规范
-
GB/T 35011-2018
微波电路 压控振荡器测试方法
-
GB/T 18500.2-2001
半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第二篇:线性模拟/数字转换器(ADC)空白详细规范
-
GB/T 34898-2017
微机电系统（MEMS）技术 MEMS谐振敏感元件非线性振动测试方法
-
GB/T 14027.7-1992
半导体集成电路通信电路系列和品种 数字交换系统接口电路系列品种
-
GB/T 16466-1996
膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用能力批准程序)
-
GB/T 15878-2015
半导体集成电路 小外形封装引线框架规范
-
T/CIE 068-2020
工业级高可靠集成电路评价 第2部分：DC/DC变换器
-
GB 11494-1989
电子器件详细规范 半导体集成电路CD7698CP行场扫描及色处理电路
-
SJ 20073-1992
半导体集成电路Jμ8254型可编程定时计数器详细规范
-
GB/T 14032-1992
半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
-
GB/T 28276-2012
硅基MEMS制造技术 体硅溶片工艺规范
-
GB/T 11498-2018
半导体器件 集成电路 第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)
-
SJ 20954-2006
集成电路锁定试验
-
GB/T 14027.5-1992
半导体集成电路通信电路系列和品种 电话电路系列品种
打开设置，点击
执行注册
