收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 36474-2018 半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法
Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for double data rate 3 synchronous dynamic random access memory(DDR3 SDRAM)
基本信息
-
标准号：
GB/T 36474-2018
-
名称：
半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法
-
英文名称：
Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for double data rate 3 synchronous dynamic random access memory(DDR3 SDRAM)
-
状态：
现行
-
类型：
国家标准
-
性质：
推荐性
-
发布日期：
2018-06-07
-
实施日期：
2019-01-01
-
废止日期：
暂无
-
相关公告：
实施公告【关于批准发布《工业硼酸》等393项国家标准和7项国家标准外文版的公告】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类：
【
电子学（31）
集成电路、微电子学（31.200）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
微电路（L55/59）
半导体集成电路（L56）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
起草单位：
中国电子技术标准化研究院
西安紫光国芯半导体有限公司
上海高性能集成电路设计中心
武汉芯动科技有限公司
成都华微电子科技有限公司
-
归口单位：
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC
78)
-
主管部门：
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC
78)
相关人员
关联标准
-
SJ/T 11477-2014
IP核交付项规范
-
GB/T 13067-1991
半导体集成电路系列和品种 石英电子钟表用系列的品种
-
GB/T 14028-2018
半导体集成电路 模拟开关测试方法
-
GB/T 34898-2017
微机电系统（MEMS）技术 MEMS谐振敏感元件非线性振动测试方法
-
GB/T 14028-1992
半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
-
SJ 20158-1992
半导体集成电路JT54S151、JT54S153和JT54S157型S—TTL 数据选择器详细规范
-
GB/T 15138-1994
膜集成电路和混合集成电路外形尺寸
-
GB/T 17024-1997
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第三篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列空白详细规范
-
GB/T 12084-1989
半导体集成电路TTL 电路系列和品种 54/74F系列的品种
-
GB/T 36479-2018
集成电路 焊柱阵列试验方法
-
GB/T 7092-1993
半导体集成电路外形尺寸
-
GB/T 19403.1-2003
半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)
-
GB/T 36477-2018
半导体集成电路 快闪存储器测试方法
-
GB/T 20296-2012
集成电路记忆法与符号
-
GB/T 13064-1991
半导体集成电路系列和品种 复印机用系列的品种
-
SJ/Z 11361-2006
集成电路IP核保护大纲
-
SJ/T 11478-2014
IP核质量评测
-
GB/T 3434-1986
半导体集成电路ECL电路系列和品种
-
GB/T 14620-1993
薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
-
GB/T 14029-1992
半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
打开设置，点击
执行注册
