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GB/T 13166-2018 电子测量仪器设计余量与模拟误用试验
Design margin and abuse tests for electronic measuring instrument
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
计量学和测量、物理现象（17）
电学、磁学、电和磁的测量（17.220）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
电子测量与仪器（L85/89）
电子测量与仪器综合（L85）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
归口单位：
全国电子测量仪器标准化技术委员会(SAC/TC
153)
-
主管部门：
全国电子测量仪器标准化技术委员会(SAC/TC
153)
-
起草单位：
工业和信息化部电子工业标准化研究院
苏州市质量技术监督综合检验检测中心
中国电子科技集团公司第41研究所
相关人员
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