• 当前位置：
    首页 规范标准 GB/T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法
收藏到云盘
纠错反馈

GB/T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法

Test method for determination of crystal defect density in PV silicon ingot and wafer
基本信息
  • 标准号：
    GB/T 37051-2018
  • 名称：
    太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法
  • 英文名称：
    Test method for determination of crystal defect density in PV silicon ingot and wafer
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    国家标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2018-12-28
  • 实施日期：
    2019-04-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    实施公告【关于批准发布《农产品基本信息描述 谷物类》等国家标准和国家标准修改单的公告】
    • 阅读或下载 使用APP、PC客户端等功能更强大
    • 网页在线阅读 体验阅读、搜索等基本功能
    • 用户分享资源 来自网友们上传分享的文件
    • 纸书购买 平台官方及网友推荐
分类信息
  • ICS分类：
    【 电气工程（29） 半导体材料（29.045） 】
  • CCS分类：
    【 冶金（H） 半金属与半导体材料（H80/84） 半金属与半导体材料综合（H80） 】
  • 行标分类：
    暂无
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    本标准规定了太阳能级多晶硅锭、硅片的晶体缺陷密度测定方法，包含方法概要、试剂和材料、仪器和设备、试样制备、测试步骤、数据处理、精密度、干扰因素和报告。
    本标准适用于太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度的测定。
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
  • 引用标准：
    GB/T 6379.2-2004 GB/T 25915.1-2010 GB/T 29054 GB/T 29055
相关部门
  • 起草单位：
    中国电子技术标准化研究院 镇江仁德新能源科技有限公司 江西赛维LDK太阳能高科技有限公司 英利集团有限公司 泰州中来光电科技有限公司 晋能清洁能源科技有限公司 天津英利新能源有限公司
  • 归口单位：
    全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)
  • 主管部门：
    全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)
相关人员
暂无
关联标准
  • GB/T 1558-1997 硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法
  • T/IAWBS 001-2017 碳化硅单晶
  • GB/T 13388-2009 硅片参考面结晶学取向X射线测试方法
  • DB65/T 3486-2013 新疆维吾尔自治区太阳能级多晶硅块红外探伤检测方法
  • GB/T 20230-2022 磷化铟单晶
  • GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法
  • SJ/T 11502-2015 碳化硅单晶抛光片规范
  • YS/T 679-2008 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法
  • GB/T 2881-2014 工业硅
  • GB/T 29057-2012 用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程
  • GB/T 14146-2009 硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法
  • GB/T 34479-2017 硅片字母数字标志规范
  • SJ/T 11496-2015 红外吸收法测量砷化镓中硼含量
  • GB/T 11071-2006 区熔锗锭
  • GB/T 13387-2009 硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法
  • GB/T 29851-2013 光伏电池用硅材料中B、Al受主杂质含量的二次离子质谱测量方法
  • GB/T 20230-2006 磷化铟单晶
  • GB/T 20228-2006 砷化镓单晶
  • GB/T 35310-2017 200mm硅外延片
  • GB/T 11069-2006 高纯二氧化锗
用户分享资源

GB/T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法

Test method for determination of crystal... 上传文件 注:本列表内文件主要来源于网友们的分享上传。如您发现有不正确不合适的内容，请及时联系客服
纠错反馈
GB/T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法
提交反馈
分类列表
确定
上传文件
完全匿名 前台匿名 显示用户名 点击选择文件
{{uploadFile.name}} {{uploadFile.sizeStr}}
目前支持上传小于100MB的PDF、OCF、OCS格式文件
注:您上传文件即代表同意平台可以公开给所有用户下载。平台会根据您的选择及实际情况，为您发放相应的直接或分成奖励。平台也可以根据实际情况需要，对您上传到服务器的文件进行调整隐藏删除等，而无需通知到您。
联系客服

纸书购买链接招商中，联系客服入驻

客服QQ： 2449276725 1455033258

1098903864 1969329120

客服电话：0379-80883238

电子邮箱：ocsyun@126.com