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GB/T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法
Test method for determination of crystal defect density in PV silicon ingot and wafer
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电气工程(29)
半导体材料(29.045)
】
-
CCS分类:
【
冶金(H)
半金属与半导体材料(H80/84)
半金属与半导体材料综合(H80)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
起草单位:
中国电子技术标准化研究院
镇江仁德新能源科技有限公司
江西赛维LDK太阳能高科技有限公司
英利集团有限公司
泰州中来光电科技有限公司
晋能清洁能源科技有限公司
天津英利新能源有限公司
-
归口单位:
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC
203)
-
主管部门:
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC
203)
相关人员
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