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YS/T 37.2-2018 高纯二氧化锗化学分析方法 钼蓝分光光度法测定硅量

基本信息
  • 标准号:
    YS/T 37.2-2018
  • 名称:
    高纯二氧化锗化学分析方法 钼蓝分光光度法测定硅量
  • 英文名称:
    暂无
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    行业标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2018-10-22
  • 实施日期:
    2019-04-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    实施公告【2019年第1号(总第229号)】
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分类信息
  • ICS分类:
    【 冶金(77) 金属材料试验(77.040) 金属材料化学分析(77.040.30) 】
  • CCS分类:
    【 冶金(H) 金属化学分析方法(H10/19) 半金属及半导体材料分析方法(H17) 】
  • 行标分类:
    【 有色冶金(YS) 】
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    本部分规定了高纯二氧化锗中硅含量的测定方法。
    本部分适用于高纯二氧化锗中硅含量的测定,测定范围:0.00001%~0.00010%。
  • 引用标准:
    暂无
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暂无
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暂无
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暂无
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