收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 15879.5-2018 半导体器件的机械标准化 第5部分:用于集成电路载带自动焊(TAB)的推荐值
Mechanical standardization of semiconductor devices—Part 5: Recommendations applying to tape automated bonding(TAB) of integrated circuits基本信息
- 标准号:GB/T 15879.5-2018
- 名称:半导体器件的机械标准化 第5部分:用于集成电路载带自动焊(TAB)的推荐值
- 英文名称:Mechanical standardization of semiconductor devices—Part 5: Recommendations applying to tape automated bonding(TAB) of integrated circuits
- 状态:现行
- 类型:国家标准
- 性质:推荐性
- 发布日期:2018-09-17
- 实施日期:2019-04-01
- 废止日期:暂无
- 相关公告:
分类信息
- ICS分类:【 】
- CCS分类:【 】
- 行标分类:暂无
描述信息
- 前言:暂无
- 适用范围:《半导体器件的机械标准化》的本部分规定了采用载带自动焊(TAB)作为结构和互连主要构成的集成电路封装推荐值。本部分适用于制造厂供给用户的成品单元,对集成电路(IC)到载带的互连(内引线焊接)没有明确要求。
- 引用标准:暂无
相关标准
- 代替标准:GB/T 15879-1995
- 采用标准:IEC 60191-5:1997 半导体器件的机械标准化 第5部分:采用载带自动焊(TAB)的集成电路封装推荐值 (等同采用 IDT)
相关部门
- 起草单位:中国电子技术标准化研究院 中国电子科技集团公司第五十八研究所 四川蜀杰通用电气有限公司
- 归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
- 主管部门:工业和信息化部(电子)
相关人员
暂无
关联标准
- GB/T 34900-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构残余应变测量方法
- GB/T 18500.2-2001 半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第二篇:线性模拟/数字转换器(ADC)空白详细规范
- SJ/T 11703-2018 数字微电子器件封装的串扰特性测试方法
- GB/T 35004-2018 数字集成电路 输入/输出电气接口模型规范
- GB/T 11497.1-1989 半导体集成电路CMOS电路系列和品种 54/74 HC 系列的品种
- SJ 20961-2006 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
- SJ/T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
- ZBBZH/ZS 中国石化加油集成电路(IC)卡应用规范(V1.0版)
- GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
- GB 3430-1989 半导体集成电路型号命名方法
- GB/T 6815-1986 半导体集成非线性电路系列和品种 锁相环的品种
- SJ 20938-2005 微波电路变频测试方法
- GB/T 8976-1996 膜集成电路和混合膜集成电路总规范
- GB/T 15138-1994 膜集成电路和混合集成电路外形尺寸
- SJ/Z 11357-2006 集成电路IP核软核、硬核的结构、性能和物理建模规范
- GB/T 16526-1996 封装引线间电容和引线负载电容测试方法
- GB/T 17865-1999 焦深与最佳聚焦的测量规范
- GB/T 15509-1995 半导体集成电路系列和品种 彩电遥控器用电路系列的品种
- GB/T 15862-1995 离子注入机通用技术条件
- GB/T 32814-2016 硅基MEMS制造技术 基于SOI硅片的MEMS工艺规范