收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 12964-2018 硅单晶抛光片
Monocrystalline silicon polished wafers
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电气工程(29)
半导体材料(29.045)
】
-
CCS分类:
【
冶金(H)
半金属与半导体材料(H80/84)
元素半导体材料(H82)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
归口单位:
2)
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC
203)
203/SC
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会(SAC/TC
-
起草单位:
有色金属技术经济研究院
有研半导体材料有限公司
浙江金瑞泓科技股份有限公司
上海合晶硅材料有限公司
浙江海纳半导体有限公司
浙江省硅材料质量检验中心
天津市环欧半导体材料技术有限公司
-
主管部门:
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC
203)
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会(SAC/T
相关人员
关联标准
-
GB/T 30858-2014
蓝宝石单晶衬底抛光片
-
GB/T 30866-2014
碳化硅单晶片直径测试方法
-
GB/T 24579-2009
酸浸取 原子吸收光谱法测定多晶硅表面金属污染物
-
GB/T 29054-2019
太阳能电池用铸造多晶硅块
-
GB/T 20229-2006
磷化镓单晶
-
GB/T 19199-2003
半绝缘砷化镓单晶中碳浓度的红外吸收测试方法
-
GB/T 29852-2013
光伏电池用硅材料中P、As、Sb施主杂质含量的二次离子质谱测量方法
-
SJ/T 11490-2015
低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法
-
GB/T 1554-2009
硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
-
GB/T 36706-2018
磷化铟多晶
-
GB/T 25075-2010
太阳能电池用砷化镓单晶
-
GB/T 30453-2013
硅材料原生缺陷图谱
-
GB/T 35305-2017
太阳能电池用砷化镓单晶抛光片
-
GB/T 12965-2005
硅单晶切割片和研磨片
-
SJ/T 11500-2015
碳化硅单晶晶向的测试方法
-
YS/T 978-2014
单晶炉碳/碳复合材料导流筒
-
GB/T 13389-2014
掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程
-
GB/T 13387-2009
硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法
-
GB/T 32573-2016
硅粉 总碳含量的测定 感应炉内燃烧后红外吸收法
-
GB/T 31476-2015
电子装联高质量内部互连用焊料