收藏到云盘
纠错反馈

GB/T 12964-2018 硅单晶抛光片

Monocrystalline silicon polished wafers
基本信息
  • 标准号:
    GB/T 12964-2018
  • 名称:
    硅单晶抛光片
  • 英文名称:
    Monocrystalline silicon polished wafers
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    国家标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2018-09-17
  • 实施日期:
    2019-06-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    实施公告【关于批准发布《中小学校普通教室照明设计安装卫生要求》等454项国家标准和6项国家标准修改单的公告】
    • 阅读或下载 使用APP、PC客户端等功能更强大
    • 网页在线阅读 体验阅读、搜索等基本功能
    • 用户分享资源 来自网友们上传分享的文件
    • 纸书购买 平台官方及网友推荐
分类信息
  • ICS分类:
    电气工程(29) 半导体材料(29.045)
  • CCS分类:
    冶金(H) 半金属与半导体材料(H80/84) 元素半导体材料(H82)
  • 行标分类:
    暂无
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    本标准规定了硅单晶抛光片(简称硅抛光片)的牌号及分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存、质量证明书和订货单(或合同)内容。本标准适用于直拉法、悬浮区熔法(包括中子嬗变掺杂和气相掺杂)制备的直径不大于200 mm的硅单晶抛光片。产品主要用于制作集成电路、分立元件、功率器件等,或作为硅外延片的衬底。
  • 引用标准:
    暂无
相关标准
  • 代替标准:
    GB/T 12964-2003
  • 引用标准:
    GB/T 1550 GB/T 2828.1-2012 GB/T 4058 GB/T 6616 GB/T 6618 GB/T 6619 GB/T 6620 GB/T 6621 GB/T 6624 GB/T 11073 GB/T 12962 GB/T 12965 GB/T 14264 GB/T 14844 GB/T 19921 GB/T 24578 GB/T 29507 GB/T 32279 GB/T 32280 YS/T 26 YS/T 28 YS/T 679
相关部门
  • 归口单位:
    2) 全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203) 203/SC 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会(SAC/TC
  • 起草单位:
    有色金属技术经济研究院 有研半导体材料有限公司 浙江金瑞泓科技股份有限公司 上海合晶硅材料有限公司 浙江海纳半导体有限公司 浙江省硅材料质量检验中心 天津市环欧半导体材料技术有限公司
  • 主管部门:
    全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203) 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会(SAC/T
相关人员
暂无
关联标准
  • GB/T 1554-2009 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
  • YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法
  • GB/T 14264-2009 半导体材料术语
  • GB/T 32277-2015 硅的仪器中子活化分析测试方法
  • GB/T 35316-2017 蓝宝石晶体缺陷图谱
  • GB/T 35307-2017 流化床法颗粒硅
  • SJ 20858-2002 碳化硅单晶材料电学参数测试方法
  • GB/T 29852-2013 光伏电池用硅材料中P、As、Sb施主杂质含量的二次离子质谱测量方法
  • SJ/T 11488-2015 半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法
  • GB/T 24580-2009 重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱检测方法
  • SJ/T 11492-2015 光致发光法测定磷镓砷晶片的组分
  • SJ/T 11489-2015 低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法
  • GB/T 35308-2017 太阳能电池用锗基Ⅲ-Ⅴ族化合物外延片
  • GB/T 31854-2015 光伏电池用硅材料中金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法
  • YS/T 989-2014 锗粒
  • GB/T 25074-2010 太阳能级多晶硅
  • GB/T 2881-2014e 工业硅
  • GB/T 12963-2009 硅多晶
  • GB 12964-1991 硅单晶抛光片
  • GB/T 13387-2009 硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法
用户分享资源

GB/T 12964-2018 硅单晶抛光片

Monocrystalline silicon polished wafers
上传文件
注:本列表内文件主要来源于网友们的分享上传。如您发现有不正确不合适的内容,请及时联系客服
纠错反馈
GB/T 12964-2018 硅单晶抛光片
提交反馈
分类列表
确定
上传文件
完全匿名 前台匿名 显示用户名 点击选择文件
{{uploadFile.name}} {{uploadFile.sizeStr}}
目前支持上传小于100MB的PDF、OCF、OCS格式文件
注:您上传文件即代表同意平台可以公开给所有用户下载。平台会根据您的选择及实际情况,为您发放相应的直接或分成奖励。平台也可以根据实际情况需要,对您上传到服务器的文件进行调整隐藏删除等,而无需通知到您。
联系客服

纸书购买链接招商中,联系客服入驻

客服QQ: 2449276725 1455033258

1098903864 1969329120

客服电话:0379-80883238

电子邮箱:ocsyun@126.com