收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 1557-2018 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
Test method for determining interstitial oxygen content in silicon by infrared absorption
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
冶金(77)
金属材料试验(77.040)
】
-
CCS分类:
【
冶金(H)
金属化学分析方法(H10/19)
半金属及半导体材料分析方法(H17)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
归口单位:
2)
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC
203)
203/SC
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会(SAC/TC
-
起草单位:
有研半导体材料有限公司
新特能源股份有限公司
亚洲硅业(青海)有限公司
宜昌南玻硅材料有限公司
北京合能阳光新能源技术有限公司
峨嵋半导体材料研究所
隆基绿能科技股份有限公司
内蒙古盾安光伏科技有限公司
-
主管部门:
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC
203)
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会(SAC/T
相关人员
关联标准
-
GB/T 4192-1984
电真空器件及电光源用钨、钼材料电阻率的测试方法
-
YB/T 130-1997
钢的等温转变曲线图的测定
-
YS/T 34.4-1992
高纯砷化学分析方法 极谱法测定硫量
-
YS/T 987-2014
氯硅烷中碳杂质的测定方法——甲基二氯氢硅的测定
-
YS/T 226.12-2009
硒化学分析方法 第12部分:硒量的测定 硫代硫酸钠容量法
-
GB/T 34481-2017
低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法
-
YS/T 37.3-2018
高纯二氧化锗化学分析方法 石墨炉原子吸收光谱法测定砷量
-
YS/T 438.1-2001
砂状氧化铝物理性能测定方法 筛分法测定粒度分布
-
DB53/T 729-2015
云南省锌物料中锗含量的测定 分光光度法
-
GB/T 39145-2020
硅片表面金属元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法
-
YS/T 226.3-1994
硒中锡量的测定(苯芴酮--溴代十六烷基三甲基胺吸光光度法)
-
YS/T 226.4-1994
硒中铝量的测定(铬天青S-溴代十六烷基吡啶吸光光度法)
-
YS/T 34.1-1992
高纯砷化学分析方法 孔雀绿分光光度法测定锑量
-
GB/T 1557-2006
硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
-
GB/T 32281-2015
太阳能级硅片和硅料中氧、碳、硼和磷量的测定 二次离子质谱法
-
YS/T 227.10-1994
碲中砷量的测定(正戊醇萃取砷钼蓝分光光度法)
-
YS/T 438.4-2001
砂状氧化铝物理性能测定方法 比表面积的测定
-
GB/T 5314-1985
粉末冶金用粉末的取样方法
-
GB/T 4059-2018
硅多晶气氛区熔基磷检验方法
-
GB/T 30857-2014
蓝宝石衬底片厚度及厚度变化测试方法