收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 14844-2018 半导体材料牌号表示方法
Designations of semiconductor materials
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电气工程(29)
半导体材料(29.045)
】
-
CCS分类:
【
冶金(H)
半金属与半导体材料(H80/84)
半金属与半导体材料综合(H80)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
归口单位:
2)
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC
203)
203/SC
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会(SAC/TC
-
起草单位:
有色金属技术经济研究院
南京国盛电子有限公司
有研半导体材料有限公司
江苏中能硅业科技发展有限公司
苏州协鑫光伏科技有限公司
浙江海纳半导体有限公司
浙江省硅材料质量检验中心
东莞中镓半导体科技有限公司
天津市环欧半导体材料技术有限公司
-
主管部门:
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC
203)
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会(SAC/T
相关人员
关联标准
-
GB/T 8750-1997
半导体器件键合金丝
-
GB/T 29508-2013
300mm 硅单晶切割片和磨削片
-
YS/T 24-1992
外延钉缺陷的检验方法
-
YS/T 43-2011
高纯砷
-
GB/T 26065-2010
硅单晶抛光试验片规范
-
SJ/T 11499-2015
碳化硅单晶电学性能的测试方法
-
GB/T 29507-2013
硅片平整度、厚度及总厚度变化测试 自动非接触扫描法
-
GB/T 26071-2018
太阳能电池用硅单晶片
-
GB/T 29055-2012
太阳电池用多晶硅片
-
GB/T 34479-2017
硅片字母数字标志规范
-
SJ/T 11494-2015
硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法
-
GB/T 6619-2009
硅片弯曲度测试方法
-
YS/T 982-2014
氢化炉碳/碳复合材料U形发热体
-
GB/T 24579-2009
酸浸取 原子吸收光谱法测定多晶硅表面金属污染物
-
GB/T 25075-2010
太阳能电池用砷化镓单晶
-
GB/T 25074-2010
太阳能级多晶硅
-
GB/T 11071-2006
区熔锗锭
-
YS/T 43-1992
高纯砷
-
GB/T 31476-2015
电子装联高质量内部互连用焊料
-
GB/T 12964-2018
硅单晶抛光片