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GB/T 1550-2018 非本征半导体材料导电类型测试方法

Test methods for conductivity type of extrinsic semiconducting materials
基本信息
  • 标准号：
    GB/T 1550-2018
  • 名称：
    非本征半导体材料导电类型测试方法
  • 英文名称：
    Test methods for conductivity type of extrinsic semiconducting materials
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    国家标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2018-12-28
  • 实施日期：
    2019-11-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    实施公告【关于批准发布《农产品基本信息描述 谷物类》等国家标准和国家标准修改单的公告】
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    本标准规定了非本征半导体材料导电类型的测试方法。
    本标准适用于硅、锗非本征半导体材料导电类型的测试，其他非本征半导体材料可参照本标准测试。本标准方法能保证对均匀的同一导电类型的材料测得可靠结果；对于导电类型不均匀的材料，可在其表面上测出不同导电类型区域。
    本标准不适用于分层结构材料（如外延片）导电类型的测试。
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
  • 代替标准：
    GB/T 1550-1997
  • 引用标准：
    GB/T 1551 GB/T 4326 GB/T 14264
相关部门
  • 归口单位：
    2) 全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203) 203/SC 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会(SAC/TC
  • 起草单位：
    中国计量科学研究院 新特能源股份有限公司 中锗科技有限公司 江苏中能硅业科技发展有限公司 洛阳中硅高科技有限公司 北京合能阳光新能源技术有限公司 江西赛维LDK太阳能高科技有限公司 浙江海纳半导体有限公司 乐山市产品质量监督检验所 广州市昆德科技有限公司 瑟米莱伯贸易(上海)有限公司 峨嵋半导体材料研究所 云南冶金云芯硅材股份有限公司
  • 主管部门：
    全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203) 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会(SAC/T
相关人员
暂无
关联标准