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T/CSPSTC 25-2019 硅基薄膜光伏组件光致衰减测试方法

Test method for thin-film amorphous silicon based photovoltaic(PV) modules light induced degration(LID)
基本信息
  • 标准号：
    T/CSPSTC 25-2019
  • 名称：
    硅基薄膜光伏组件光致衰减测试方法
  • 英文名称：
    Test method for thin-film amorphous silicon based photovoltaic(PV) modules light induced degration(LID)
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    团体标准
  • 性质：
    强制性
  • 发布日期：
    2019-08-28
  • 实施日期：
    2019-11-15
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    暂无
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    本标准规定了硅基薄膜光伏组件光致衰减测试方法的装置、试样、程序、数据处理和试验报告等。本标准适用于硅基薄膜光伏组件。
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
  • 引用标准：
    GB/T 2297-1989 IEC 60904-9 IEC 61215-2
相关部门
  • 起草单位：
    成都中建材光电材料有限公司 汉能移动能源控股集团有限公司 标准联合咨询中心股份公司 深圳市创益科技发展有限公司 东泰高科装备科技有限公司北京分公司 杭州纤纳光电科技有限公司 河北汉盛光电科技有限公司
  • 提出部门：
    汉能移动能源控股集团有限公司
  • 发布部门：
    中国科技产业化促进会
  • 归口单位：
    中国科技产业化促进会
相关人员
  • 起草人：
    陈振 丁建 郝宇花 蒋猛 李璇 李志坚 卢成绪 史振亮 童翔 姚冀众 薛俊明
关联标准