收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 15879.4-2019 半导体器件的机械标准化 第4部分:半导体器件封装外形的分类和编码体系
Mechanical standardization of semiconductor devices—Part 4: Coding system and classification into forms of package outlines for semiconductor device packages
基本信息
标准号:
GB/T 15879.4-2019
名称:
半导体器件的机械标准化 第4部分:半导体器件封装外形的分类和编码体系
英文名称:
Mechanical standardization of semiconductor devices—Part 4: Coding system and classification into forms of package outlines for semiconductor device packages
状态:
现行
类型:
国家标准
性质:
推荐性
发布日期:
2019-08-30
实施日期:
2019-12-01
废止日期:
暂无
相关公告:
实施公告【关于批准发布《针叶树锯材》等501项国家标准和6项国家标准修改单的公告】
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
ICS分类:
【
电子学(31)
半导体分立器件(31.080)
】
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
微电路(L55/59)
微电路综合(L55)
】
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
SJ/T 11705-2018
微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法
GB/T 4587-1994
半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
GB/T 35010.6-2018
半导体芯片产品 第6部分:热仿真要求
GB/T 17024-1997
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第三篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列空白详细规范
GB/T 13062-1991
膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(可供认证用)
GB/T 32872-2016
空间科学照明用LED筛选规范
SJ/T 2658.13-2015
半导体红外发射二极管测量方法 第13部分:辐射功率温度系数
SJ/T 2214-2015
半导体光电二极管和光电晶体管测试方法
SJ/T 2216-2015
硅光电二极管技术规范
GB/T 34893-2017
微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法
GB/T 14113-1993
半导体集成电路封装术语
GB/T 35010.1-2018
半导体芯片产品 第1部分:采购和使用要求
GB/T 38762.1-2020
产品几何技术规范(GPS) 尺寸公差 第1部分:线性尺寸
SJ 50033/163-2003
半导体分立器件3DK457型功率开关晶体管详细规范
SJ 20954-2006
集成电路锁定试验
GB/T 8446.3-2004
电力半导体器件用散热器 第3部分:绝缘件和紧固件
GB/T 28277-2012
硅基MEMS制造技术 微键合区剪切和拉压强度检测方法
GB/T 7092-1993
半导体集成电路外形尺寸
GB/T 34899-2017
微机电系统(MEMS)技术 基于拉曼光谱法的微结构表面应力测试方法
GB/T 35010.7-2018
半导体芯片产品 第7部分:数据交换的XML格式