收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 16596-2019 确定晶片坐标系规范
Specification for establishing a wafer coordinate system
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电气工程(29)
半导体材料(29.045)
】
-
CCS分类:
【
冶金(H)
半金属与半导体材料(H80/84)
半金属与半导体材料综合(H80)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 29054-2012
太阳能级铸造多晶硅块
-
GB/T 14863-2013
用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法
-
GB/T 37053-2018
氮化镓外延片及衬底片通用规范
-
GB/T 35305-2017
太阳能电池用砷化镓单晶抛光片
-
YS/T 1167-2016
硅单晶腐蚀片
-
GB/T 20229-2022
磷化镓单晶
-
YS/T 979-2014
高纯三氧化二镓
-
GB/T 29057-2012
用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程
-
GB/T 1555-2009
半导体单晶晶向测定方法
-
GB/T 26069-2010
硅退火片规范
-
GB/T 29055-2019
太阳能电池用多晶硅片
-
GB/T 19199-2003
半绝缘砷化镓单晶中碳浓度的红外吸收测试方法
-
T/IAWBS 001-2017
碳化硅单晶
-
SJ/T 11499-2015
碳化硅单晶电学性能的测试方法
-
SJ/T 11504-2015
碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法
-
GB/T 24578-2009
硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法
-
GB/T 6621-2009
硅片表面平整度测试方法
-
GB/T 25074-2010
太阳能级多晶硅
-
SJ/T 11494-2015
硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法
-
GB/T 14139-2019
硅外延片