收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 38341-2019 微机电系统(MEMS)技术 MEMS器件的可靠性综合环境试验方法
Micro-electromechanical system technology—The reliability test methods of MEMS in integrated environments
基本信息
-
标准号:
GB/T 38341-2019
-
名称:
微机电系统(MEMS)技术 MEMS器件的可靠性综合环境试验方法
-
英文名称:
Micro-electromechanical system technology—The reliability test methods of MEMS in integrated environments
-
状态:
现行
-
类型:
国家标准
-
性质:
推荐性
-
发布日期:
2019-12-31
-
实施日期:
2020-04-01
-
废止日期:
暂无
-
相关公告:
实施公告【关于批准发布《非自行指示秤》等169项国家标准的公告】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
集成电路、微电子学(31.200)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
微电路(L55/59)
微电路综合(L55)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 14113-1993
半导体集成电路封装术语
-
GB/T 17574.20-2006
半导体器件 集成电路 第2-20部分:数字集成电路 低压集成电路族规范
-
GB/T 6812-1986
半导体集成非线性电路系列和品种 模拟乘-除法器的品种
-
GB/T 15879-1995
半导体器件的机械标准化 第5部分:用于集成电路载带自动焊(TAB)的推荐值
-
SJ/Z 11354-2006
集成电路模拟/混合信号IP核规范
-
GB/T 18500.2-2001
半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第二篇:线性模拟/数字转换器(ADC)空白详细规范
-
GB/T 34893-2017
微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法
-
GB/T 35004-2018
数字集成电路 输入/输出电气接口模型规范
-
GB/T 15878-2015
半导体集成电路 小外形封装引线框架规范
-
GB/T 36474-2018
半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法
-
GB/T 35010.1-2018
半导体芯片产品 第1部分:采购和使用要求
-
GB/T 8976-1996
膜集成电路和混合膜集成电路总规范
-
GB/T 17864-1999
关键尺寸(CD)计量方法
-
GB/T 12842-1991
膜集成电路和混合膜集成电路术语
-
YD/T 3944-2021
人工智能芯片基准测试评估方法
-
GB/T 11498-2018
半导体器件 集成电路 第21部分:膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)
-
GB/T 14029-1992
半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
-
GB/T 36614-2018
集成电路 存储器引出端排列
-
GB/T 38762.1-2020
产品几何技术规范(GPS) 尺寸公差 第1部分:线性尺寸
-
SJ/T 10804-2000
半导体集成电路 电平转换器测试方法的基本原理