收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 29055-2019 太阳能电池用多晶硅片
Multicrystalline silicon wafers for photovoltaic solar cell
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电气工程(29)
半导体材料(29.045)
】
-
CCS分类:
【
冶金(H)
半金属与半导体材料(H80/84)
元素半导体材料(H82)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
归口单位:
2)
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC
203)
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC
203/SC
-
起草单位:
有色金属技术经济研究院
英利能源(中国)有限公司
宜昌南玻硅材料有限公司
江苏协鑫硅材料科技发展有限公司
镇江仁德新能源科技有限公司
江西赛维LDK太阳能高科技有限公司
扬州荣德新能源科技有限公司
苏州协鑫光伏科技有限公司
-
主管部门:
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC
203)
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员
相关人员
关联标准
-
GB/T 30856-2014
LED外延芯片用砷化镓衬底
-
YS/T 222-1996
碲锭
-
SJ/T 11488-2015
半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法
-
GB/T 6618-2009
硅片厚度和总厚度变化测试方法
-
YS/T 15-1991
硅外延层和扩散层厚度测定磨角染色法
-
GB 12964-1991
硅单晶抛光片
-
GB/T 24579-2009
酸浸取 原子吸收光谱法测定多晶硅表面金属污染物
-
GB/T 41652-2022
刻蚀机用硅电极及硅环
-
SJ/T 11492-2015
光致发光法测定磷镓砷晶片的组分
-
DB35/T 1146-2011
福建省硅材料中杂质元素含量测定 辉光放电质谱法
-
YS/T 28-2015
硅片包装
-
GB/T 12963-1996
硅多晶
-
GB/T 29852-2013
光伏电池用硅材料中P、As、Sb施主杂质含量的二次离子质谱测量方法
-
SJ/T 11505-2015
蓝宝石单晶抛光片规范
-
GB/T 12963-2014
电子级多晶硅
-
GB/T 4061-2009
硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法
-
SJ/T 11497-2015
砷化镓晶片热稳定性的试验方法
-
T/IAWBS 003-2017
碳化硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法
-
GB/T 11093-2007
液封直拉法砷化镓单晶及切割片
-
GB/T 31474-2015
电子装联高质量内部互连用助焊剂