收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 38446-2020 微机电系统(MEMS)技术 带状薄膜抗拉性能的试验方法
Micro-electromechanical system technology—Test methods for tensile property measurement of strip thin films
基本信息
-
标准号:
GB/T 38446-2020
-
名称:
微机电系统(MEMS)技术 带状薄膜抗拉性能的试验方法
-
英文名称:
Micro-electromechanical system technology—Test methods for tensile property measurement of strip thin films
-
状态:
现行
-
类型:
国家标准
-
性质:
推荐性
-
发布日期:
2020-03-06
-
实施日期:
2020-10-01
-
废止日期:
暂无
-
相关公告:
实施公告【关于批准发布《内六角圆柱头螺钉细牙螺纹》等173项国家标准和2项国家标准修改单的公告】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
集成电路、微电子学(31.200)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
微电路(L55/59)
微电路综合(L55)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 15879.5-2018
半导体器件的机械标准化 第5部分:用于集成电路载带自动焊(TAB)的推荐值
-
GB/T 38341-2019
微机电系统(MEMS)技术 MEMS器件的可靠性综合环境试验方法
-
GB/T 17574.20-2006
半导体器件 集成电路 第2-20部分:数字集成电路 低压集成电路族规范
-
GB/T 11497.2-1989
半导体集成电路CMOS电路系列和品种 54/74 HCT 系列的品种
-
SJ/T 10804-2000
半导体集成电路 电平转换器测试方法的基本原理
-
GB/T 14025-1992
半导体集成电路门阵列电路系列和品种 ECL系列的品种
-
SJ 20961-2006
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
-
SJ/T 10741-2000
半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
-
GB/T 14027.3-1992
半导体集成电路通信电路系列和品种 模拟开关阵列系列品种
-
GB/T 9423-1988
半导体集成TTL电路系列和品种 54/74 ALS 系列的品种
-
GB/T 36474-2018
半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法
-
GB/T 6815-1986
半导体集成非线性电路系列和品种 锁相环的品种
-
GB/T 4377-2018
半导体集成电路 电压调整器测试方法
-
GB/T 14026-1992
半导体集成电路微型计算机电路系列和品种 80C86系列的品种
-
GB/T 33657-2017
纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范
-
GB/T 19248-2003
封装引线电阻测试方法
-
GB/T 3430-1989
半导体集成电路型号命名方法
-
GB/T 34900-2017
微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构残余应变测量方法
-
GB/T 14620-1993
薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
-
GB/T 14032-1992
半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理