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GB/T 38532-2020 微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定

Microbeam analysis—Electron backscatter diffraction—Measurement of average grain size
基本信息
  • 标准号：
    GB/T 38532-2020
  • 名称：
    微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定
  • 英文名称：
    Microbeam analysis—Electron backscatter diffraction—Measurement of average grain size
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    国家标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2020-03-06
  • 实施日期：
    2021-02-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    实施公告【关于批准发布《内六角圆柱头螺钉细牙螺纹》等173项国家标准和2项国家标准修改单的公告】
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    本标准规定了用电子背散射衍射法(EBSD)对抛光截面进行平均晶粒尺寸的测定方法，包含与晶体试样中的位置相关的取向、取向差和花样质量因子的测量要求[1]。
    注1： 使用光学显微镜测定晶粒尺寸已为大家普遍接受，与其相比，EBSD具有很多技术优势，如高的空间分辨率和晶粒取向的定量描述等。
    注2： 该方法还可用于一些复杂材料（如双相材料）的晶粒尺寸测量。
    注3： 对变形程度较大的试样进行分析时，需谨慎处理结果。
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
  • 引用标准：
    ISO 16700 ISO/IEC 17025 ISO 21748 ISO 23833 ISO 24173
  • 采用标准：
    ISO 13067:2011 微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定 （等同采用 IDT）
相关部门
  • 起草单位：
    中国科学院上海硅酸盐研究所 中国宝武钢铁集团中央研究院 上海发电设备成套设计研究院
  • 发布部门：
    国家标准化管理委员会
  • 归口单位：
    全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
相关人员
暂无
关联标准