收藏到云盘
纠错反馈

SJ/T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法

基本信息
  • 标准号：
    SJ/T 11765-2020
  • 名称：
    晶体管低频噪声参数测试方法
  • 英文名称：
    暂无
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    暂无
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2020-12-09
  • 实施日期：
    2021-04-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    实施公告【2021年第3号(总第251号)】
分类信息
  • ICS分类：
    暂无
  • CCS分类：
    暂无
  • 行标分类：
    暂无
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    本标准规定了晶体管1Hz～300kHz频率范围内的噪声参数测试方法及要求，适用于双极型晶体管与场效应晶体管，其他晶体管产品可参照执行。
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
暂无
相关人员
暂无
关联标准
暂无数据